2. А.В. Анкудинов "Особенности применения АСМ в механических испытаниях микро- и нанообъектов"

56 Просмотры

Спасибо! Поделитесь с друзьями!

Вам не понравилось видео. Спасибо за то что поделились своим мнением!

Издатель May 20, 2021

Особенности применения атомно-силовой микроскопии
в механических испытаниях микро- и нанообъектов

Александр Витальевич Анкудинов
Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе,
Политехническая 26, Санкт-Петербург, 194021 Россия

Будут обсуждаться следующие вопросы.
1. Модель статического взаимодействия кантилевера атомно-силового микроскопа, контактирующего с образцом, учитывающая: защемлен зонд кантилевера или скользит по поверхности образца, геометрические и механические характеристики образца и кантилевера, их взаимное расположение. Экспериментальная проверка модели.
2. Способ повышения точности наномеханических измерений в АСМ, фильтр корректировки сигналов контактной жесткости и деформации, измеряемых на образце с развитым рельефом в режиме визуализации на базе поточечной регистрации силового квазистатического взаимодействия зонда кантилевера с образцом.
3. АСМ метод испытаний на изгиб подвешенного нанообъекта. Специальный алгоритм определения длины пролета наномостика, наноконсоли, условий их закрепления, опирающийся на результаты моделирования в рамках теории Эйлера-Бернулли изгиба балки, консоли с варьируемыми граничными условиями.
4. Оптимизация измерений трех пространственных компонент силы взаимодействия зонд – образец и соответствующего вектора смещения «идеального кантилевера».
Доклад иллюстрируется примерами АСМ-измерений модуля Юнга живых клеток и гидросиликатных наносвитков.

Краткий список публикаций по теме доклада

1. К. И. Тимощук, М. М. Халисов, В. А. Пеннияйнен, Б. В. Крылов, А. В. Анкудинов. Исследование механических характеристик нативных фибробластов с помощью атомно-силового микроскопа. Письма в ЖТФ, 2019, 45(18), 44
2. A. V. Ankudinov. On the accuracy of the probe-sample contact stiffness measured by an atomic force microscope. Nanosystems: Physics, Chemistry, Mathematics, 2019, 10(6), 642
3. A. V. Ankudinov. A New Algorithm for Measuring the Young’s Modulus of Suspended Nanoobjects by the Bending-Based Test Method of Atomic Force Microscopy. Semiconductors, 2019, 53(14), 1891
4. А. В. Анкудинов, М. М. Халисов. Измерения контактной жесткости в атомно-силовом микроскопе. ЖТФ, 2020, 90(11), 1951
5. А. В. Анкудинов, А. М. Минарский. Оптимизация измерений вектора силы взаимодействия в атомно-силовой микроскопии. ЖТФ, 2021, 91(6), 1043

Полный список публикаций автора: https://www.researchgate.net/profile/A-Ankudinov